內容介紹：儘管快閃記憶體已經是成熟的技術，但是如多層單元（MLC）等不斷發展，旨在實現更高的密度。同時，也出現新的量測技術和功能，以用於開發的單顆電晶體特性分析到快閃記憶體生產的整合及自動化方案。
本期網絡研討會中會先回顧快閃記憶體技術測試基礎，包含討論穿隧效應(Fowler-Nordheim)和熱電子注入(Hot Electron Injection)寫入和抹除。接著討論用於單顆快閃電晶體和快閃陣列測試的不同面向，包括標準電晶體特性分析、耐久性和干擾測試。同時也討論MLC測試的脈衝精確度的要求。這些應用的驗證將使用吉時利最新超快速I-V測試方案，其提供最佳脈衝波形和振幅的控制，完全適合於MLC快閃記憶體測試，並使用吉時利ACS軟體來管理一系列的測試實驗。
目標聽眾:
本期網絡研討會適合想了解快閃記憶體測試設定和尋求測試方案的朋友參加。

內容介紹：該網路研討會探討在元件和製程技術領域中日益重要的超快速電流電壓（I-V ）特性分析。常見的應用包括非揮發性記憶體元件技術（NVM），如快閃和相變化記憶體，絕緣層上覆矽(SOI)元件和複合半導體的等溫特性分析，以及新材料的瞬態特性分析，例如高介電材料。
超快速I-V元件特性分析基本原理將重點說明其量測硬體和設定，包括電纜到探針台的連接。同時也討論標準的測試設定和常見的誤差來源。最後，將提供一些元件量測的應用實例。
目標對象：
研究材料、製程和元件特性分析的學生，研究人員和工程師
想瞭解這個實用的量測技術的實驗室管理者
從事元件和材料可靠度研究的工程師 (如晶圓可靠度、靜電放電、閉鎖效應等)

內容介紹：這個研討會是設計為介紹電容電壓測試這個主題，主要為其與半導體元件及材料特性的關聯。電容電壓測試普遍被使用來決定半導體參數，如摻雜濃度分布、介面能階密度、起始電壓、氧化物電荷、和載子生命期。
與會者將瞭解：
1. 什麼是電容電壓測試？
2. 哪些種類的元件可以使用電容電壓測試來測量？
3. 誰能使用電容電壓測試？
4. 電容電壓測試的挑戰
目標聽眾：
新接觸半導體材料及元件測試的工程師，想要更新測試方法知識的製程及元件工程師，特性實驗室經理。

內容介紹：本研討會將說明低電流（從nA到fA）電性測試的基本知識，包括如何選擇正確的電流量測儀器，有效降低測試設置電流雜訊的方法，以及如何找出不易察覺的雜訊來源。這些最佳測試方法對於半導體材料/元件特性，奈米科學測量，光電元件特性以及許多的應用都很重要。需要如此靈敏測量的應用範例將會討論，同時也有目前創新的測試設備方案。
與會目的：
透過參加本研討會，您將學會並了解：
1. 測量非常低電流所需的測試技巧
2. 會影響如此低電流測試的測量誤差來源
3. 在低電流測量應用中可使用的測量方案
目標聽眾：
本研討會建議給想更了解低電流的學生，研究者，工程師，以及材料科學，化學，奈米科學，和半導體元件開發這些領域的科學家來參加。

內容介紹：這個研討會將討論Guard輸出的多種不同使用方式。在此線上研討會中，您將會了解在Triax接線中Guard的目的為何。您將學會在測試架構中使用Guard，並從高輸出阻抗儀器中快速地得到輸出電壓讀值，也學會測量零件的阻值，而不須將其自PCB板上取下。
1. Triax接線中Guard的目的
2. 如何在測試架構中使用Guard
3. 從高輸出阻抗儀器中快速地得到輸出電壓讀值
4. 測量零件的阻值，而不須將其自PCB板上取下

內容介紹：調低LED的亮度有助於延長其使用壽命，以及減少其耗電量。目前裝嵌於牆上的TRIAC調光器在設計上只適宜連接真正的電阻負載，例如白熾燈或鹵素燈。但對於裝嵌於牆上的TRIAC調光器來說，LED燈泡並不屬於電阻負載，因此若利用傳統的TRIAC調光器調控LED燈泡的亮度，調控效果不會理想。這個線上研討會將會詳細討論如何利用傳統的TRIAC牆上調光器調控LED的亮度，以及如何利用美國國家半導體最新推出可支援TRIAC調光器的離線LED驅動器解決其中的技術問題，確保燈光系統的對比亮度高達100:1，也確保調控燈光時亮度變化穩定，不會出現閃爍情況。只要採用這個全新的解決方案，便可將目前所有利用標準型TRIAC牆上調光器調控燈光亮度的白熾燈泡或鹵素燈更換，改用LED燈泡。