內容介紹：本次研討會上，我們將識別、討論並提出一些高壓晶圓級參數測試挑戰的解決方案。關鍵部份包括: • 高電壓探針卡的要求 • 開關熱切換和電纜充電的風險 • 高電壓測試過程中低電壓儀器的保護 • 高電壓參數測試規劃藍圖
目標觀眾: 本次網路研討會是針對半導體業界測試部門的工程師和經理，有興趣學習更多有關高電壓參數測試和特性分析的實務議題。

內容介紹：印刷和有機電子產品是一種新穎非傳統的技術，有可能改變電子產品的世界。這項技術提供了製造低成本電子產品解決方案機會，是不相容於今日的標準無機電子產品。為實現這一潛力，對組裝好的元件和印刷油墨進行精確量測，是充分了解材料和器件的電性特性和運作特性時必不可或缺的。知道如何減少各種量測誤差的來源將是成功的關鍵。本次研討會針對印刷和有機電子產品和材料提出說明其電氣特性分析的方法和最佳量測實務。同時也討論需要這些量測原理的應用範例。 本次研討會學員將學習和瞭解： • 印刷電子油墨的電導率量測和有機電子元件的IV特性分析所需的量測技術 • 影響量測的測量誤差源 • 應用於印刷和有機電子量測應用的量測解決方案 目標觀眾: 本次研討會適合從事於材料科學、化學、奈米科學、有機/半導體元件發展等領域，且希望能更瞭解基本電氣量測的學生、研究人員、工程師和科學家。

內容介紹：維持測試系統高成本效益和效率是每一位測試工程師的工作目標。當系統需要面對多個待測元件（DUT）或測試點時，路由訊號成為必要的程序。對訊號在 DUT與電源或量測之間路徑切換的瞭解對系統完整性是重要的。要設計符合系統需求的開關，是需要對待測件、待測物數量、訊號大小、量測速度的要求，以及執行訊號路由的設備有所瞭解。本次研討會介紹的開關的基本知識，從開關類型（繼電器，電晶體等）到開關系統（多工器，矩陣等）。 本次研討會參與者將瞭解: • 開關類型（繼電器，電晶體等） • 開關系統類型（多工器，矩陣等） • 路由訊號類型（DC，AC，RF等） • 在一個系統使用多種信號路由和交換類型 • 如何提高系統的速度和準確性
參加對象： 本次研討會適合於想要更瞭解測試系統的開關技術，而工作於生產環境中的測試工程師和系統設計師。

內容介紹：本期線上研討會概述應用於今日大功率高亮度發光二極體測試所需要的電氣測試設備。將討論大型LED和LED模組如何正推動著更大電流容量和更佳輸出波形靈活性的測試設備需要，以及實現這些功能的適當的佈線要求。同時也包含發光二極管的晶閘管效應，包括它的定義、如何偵測它，和現代化測試設備如何使它偵測容易。 研討會參與者將習得和瞭解： • 大型LED和LED模組如何推動更大功率和脈衝寬度調變（PWM）的測試設備需要 • 高功率LED測試需要適當的測試接線 • 發光二極管的晶閘管（thyristor）效應和如何偵測它 目標觀眾： 本期線上研討會適合於參與開發和生產高亮度發光二極體的研究人員、測試工程師和測試工程經理等。

內容介紹：隨著LED逐漸被廣泛應用到各個領域，特別是高亮度的LED應用的高速發展和普遍使用，例如汽車、照明、路燈等等。LED的電性測試具有多樣性，提出了更高的測試要求並更具挑戰性。要很好的解決這些測試問題、給LED提供準確可靠的測試結果，必須要瞭解問題產生的根源，才能更清楚的知道如何克服測試誤差。有鑑於此，Keithley期望藉由此次的研討會，讓大家可以更清楚的瞭解以下的議題以及對應的解決方案： 1. LED自發熱效應以及如何避免自發熱效應 2. 如何將正向電壓與結溫聯繫起來 3. 雜訊在正向電壓測量中的影響 4. 直流和交流LED測試之間的差別

內容介紹：本次研討會將介紹霍爾效應量測主題，因為它們涉及半導體材料和元件特性分析。霍爾效應量測系統通常用於測定半導體參數，如載流子遷移和載流子濃度、霍爾係數、導電率和導電類型。
本次研討會參與者將學習:  • 什麼是霍爾效應量測？  • 誰需要霍爾效應量測？  • 什麼工業趨勢正在推動霍爾效應量測的需求？  • 選擇霍爾效應量測設備的關鍵考量是甚麼？  • 什麼技術能確保量測的品質？
目標客戶: 本次研討會推薦給進行如奈米材料等新材料電氣性能研究的科學家和物理學家、從事結合化合物半導體材料進行太陽能/光伏應用薄膜研發，或是研究以碳為基礎的元件特性的工程師、材料科學家和物理學家，以及所有特性分析實驗室的管理人員和任何半導體材料和測試的新手。

內容介紹：本期研討會是協助可靠度工程師認識及使用超快速I-V方法來實現最新型的偏壓溫度不穩定性量測(BTI)。第一部份是檢視目前應用於超薄膜電晶體的正負偏壓溫度不穩定性(PBTI及NBTI)的原理。第二部份是專注於其量測的挑戰和詳細說明擷取衰退與恢復特性的最佳超快速I-V量測方法。本期研討會參與者將學習： • 建構NBTI及PBTI的現行原理  • BTI衰退與恢復特性分析相關挑戰  • 應用於模型建構和程序控制的最新型量測技術  • 超快速I-V量測的熱雜訊及其它限制  • 量測系統性能分析的技巧
目標客戶：本期研討會對象是從事半導體可靠度特性分析量測的工作人員。研討內容尤其對負責開發測試系統和方法來解決超薄膜電晶體可靠度需要的學生、技術人員、工程師以及實驗室經理有所幫助。

內容介紹：電阻率是最基本的材料特性及常見的電性量測指標。特定電阻率量測方法是依據傳導、絕緣與半導體材料類型而定。本期線上研討會詳述可實現最佳結果的各種電阻率量測方法及技術。
參與者可學習塊材電阻率量測的基本原理。量測方法會因傳導、絕緣與半導體材料而異。量測方法包括金屬的四線電阻量測，絕緣體的體積和表面電阻率量測，以及半導體材料的直排四點探針和范德堡量測方法。除討論這些量測方法外，本期研討會也詳述適用於這些方法的量測技術，並討論電磁干擾和其遮蔽方法，洩漏電流和其抑止方法，以及熱電動勢和其誤差補償等量測誤差源及其免除技術。要實現最佳量測結果，除了使用適當的方法和技術外，還必須採用適合的儀器進行所需的量測。
目標客戶群：
本期網絡研討會適合於材料研究人員、研發實驗室、物理科學家、大學研究室以及需要如太陽能電池、塑料、紙張、輪胎及半導體等電阻率測試的廠商。