內容介紹：儘管快閃記憶體已經是成熟的技術，但是如多層單元（MLC）等不斷發展，旨在實現更高的密度。同時，也出現新的量測技術和功能，以用於開發的單顆電晶體特性分析到快閃記憶體生產的整合及自動化方案。
本期網絡研討會中會先回顧快閃記憶體技術測試基礎，包含討論穿隧效應(Fowler-Nordheim)和熱電子注入(Hot Electron Injection)寫入和抹除。接著討論用於單顆快閃電晶體和快閃陣列測試的不同面向，包括標準電晶體特性分析、耐久性和干擾測試。同時也討論MLC測試的脈衝精確度的要求。這些應用的驗證將使用吉時利最新超快速I-V測試方案，其提供最佳脈衝波形和振幅的控制，完全適合於MLC快閃記憶體測試，並使用吉時利ACS軟體來管理一系列的測試實驗。
目標聽眾:
本期網絡研討會適合想了解快閃記憶體測試設定和尋求測試方案的朋友參加。

內容介紹：該網路研討會探討在元件和製程技術領域中日益重要的超快速電流電壓（I-V ）特性分析。常見的應用包括非揮發性記憶體元件技術（NVM），如快閃和相變化記憶體，絕緣層上覆矽(SOI)元件和複合半導體的等溫特性分析，以及新材料的瞬態特性分析，例如高介電材料。
超快速I-V元件特性分析基本原理將重點說明其量測硬體和設定，包括電纜到探針台的連接。同時也討論標準的測試設定和常見的誤差來源。最後，將提供一些元件量測的應用實例。
目標對象：
研究材料、製程和元件特性分析的學生，研究人員和工程師
想瞭解這個實用的量測技術的實驗室管理者
從事元件和材料可靠度研究的工程師 (如晶圓可靠度、靜電放電、閉鎖效應等)

內容介紹：相變記憶體(Phase Change Memory)，一個非揮發性電腦記憶體也被稱為PRAM、PCM 和 PCRAM，是一個新穎且未來前景看好的技術。 PRAM 使用具有獨特行為的硫化玻璃，當您給予特定應用的熱能，可以使它在結晶和無定形兩個狀態之間切換。最近的技術還可以再增加兩個不同的狀態，有效地讓它的儲存容量加倍。
這個研討會將提供物理原理和PRAM記憶體元件操作的基本資料。內容包括元件一般特性和測量技術的近況與比較，其中的R - Load方法和技術就是採用吉時利ultra-fast IV量測機台。
目標聽眾：這次研討會主要建議測試工程師和測試工程經理，其目前將新進入PRAM記憶體的測量，但對於有相關經驗的人員也會有相當的幫助。

內容介紹：這個研討會是設計為介紹電容電壓測試這個主題，主要為其與半導體元件及材料特性的關聯。電容電壓測試普遍被使用來決定半導體參數，如摻雜濃度分布、介面能階密度、起始電壓、氧化物電荷、和載子生命期。
與會者將瞭解：
1. 什麼是電容電壓測試？
2. 哪些種類的元件可以使用電容電壓測試來測量？
3. 誰能使用電容電壓測試？
4. 電容電壓測試的挑戰
目標聽眾：
新接觸半導體材料及元件測試的工程師，想要更新測試方法知識的製程及元件工程師，特性實驗室經理。

內容介紹：本研討會將說明低電流（從nA到fA）電性測試的基本知識，包括如何選擇正確的電流量測儀器，有效降低測試設置電流雜訊的方法，以及如何找出不易察覺的雜訊來源。這些最佳測試方法對於半導體材料/元件特性，奈米科學測量，光電元件特性以及許多的應用都很重要。需要如此靈敏測量的應用範例將會討論，同時也有目前創新的測試設備方案。
與會目的：
透過參加本研討會，您將學會並了解：
1. 測量非常低電流所需的測試技巧
2. 會影響如此低電流測試的測量誤差來源
3. 在低電流測量應用中可使用的測量方案
目標聽眾：
本研討會建議給想更了解低電流的學生，研究者，工程師，以及材料科學，化學，奈米科學，和半導體元件開發這些領域的科學家來參加。

內容介紹：這個研討會將討論Guard輸出的多種不同使用方式。在此線上研討會中，您將會了解在Triax接線中Guard的目的為何。您將學會在測試架構中使用Guard，並從高輸出阻抗儀器中快速地得到輸出電壓讀值，也學會測量零件的阻值，而不須將其自PCB板上取下。
1. Triax接線中Guard的目的
2. 如何在測試架構中使用Guard
3. 從高輸出阻抗儀器中快速地得到輸出電壓讀值
4. 測量零件的阻值，而不須將其自PCB板上取下

內容介紹：本次研討會將以霍爾效應的測量為主題，介紹它們與半導體材料和元件特徵分析的關係。霍爾效應測量系統通常用於測量半導體參數，例如載子遷移率和載子濃度、霍爾係數和導電率以及導電型。
參加本次研討會可以瞭解到：
• 什麼是霍爾效應測量？
• 哪些人員會用到霍爾效應測量？
• 推動霍爾效應測量需求的行業趨勢是什麼？
• 在選擇霍爾效應測量所需的設備時應注意哪些關鍵問題？

內容介紹：觸摸感應正在成為一種潮流。無論是我們家裡的冰箱、空調、洗衣機，辦公室的筆記本、桌上型電腦，還是時尚青年手中的手機、MP3，抑或汽車裡面的DVD、GPS，觸摸感應方式幾乎隨處可見，以它的美觀耐用吸引著大家。使用基於Cypress PSoC的CapSense 產品，您就可以很靈活的實現觸摸按鍵，滑條，觸控板等等設計，您的產品也將受到更多的人追捧。電容式觸摸感應已經深入人心，電容式觸摸設計將成為工程師的必備知識，雜訊干擾，防水問題等更是觸摸設計需要解決得的首要問題，本次研討會將介紹如何解決電容式觸摸設計中的環境干擾。

研討會議程：

• 第一部分: 電容式觸摸感應CapSense介紹
• 第二部分: CapSense 設計 PCB Layout 原則
• 第三部分: 雜訊來源及解決方案
• 第四部分: CSD 防水設計
• 第五部分: 信噪比的優化

內容介紹：在嵌入式系統設計中，經常會出現一些可預測和不可預測的問題或者低機率事件信號。您是否需要使用示波器在長時間範圍內捕獲並記錄類比、數位信號及序列匯流排（I2C, SPI, CAN, LIN, FlexRay, RS-232/UART），然後對這些信號進行回放、解碼，並作作深入分析？您是否需要即時監測CAN/FlexRay, RS232/UART序列匯流排的錯誤？您是否想知道您的示波器捕獲不可預測信號的機率？在本次研討會中，我們的專家將基於安捷倫InfiniiVision 7000系列示波器，並結合實際的案例來回答這些問題，案例包括雷達、人造衛星、高能物理、 Error Logging、混合訊號除錯、封包式匯流排錯誤檢測等的應用。

內容介紹：面對現今複雜的產品環境，自動化測試已經是不可或缺的一項工具，使用圖型化程式語言 LabVIEW 來開發儀器控制的程式，不僅有效節省工程師開發程式的時間，更可降低測試成本並縮短產品上市的時間。LabVIEW 可使工程師選擇簡單上手的 "Plug and Play" 驅動程式或是容易升級和替換量測儀器的 IVI（Interchangeable Virtual Instrument）驅動程式，以簡化自動化測試程式的開發，保障未來維護的方便性。本研討會將探討如何以 LabVIEW 為核心，搭配工業標準的自動化量測平台 PXI 和模組化儀器，來設計您下一代的自動化量測解決方案。 透過這場網路研討會，您可以學到 • LabVIEW 如何透過 PNP 或 IVI 驅動程式有效控制 GPIB 介面的儀器 • LabVIEW 如何容易地控制 PXI 平台的模組化儀器 • 比較模組化儀器與傳統儀器的差異性