內容介紹：本次研討會重點是檢視有關晶圓級可靠度(WLR)的並行測試解決方案的優點和一些考量，通常其使用於技術發展和製程整合，到製程可靠性監控的整個半導體製造週期。 WLR測試速度和準確性會影響新設計產品上市時間。並行WLR測試是一個立即提供統計意義樣品數的工具，以顯著地加快產能。並行WLR測試方案為傳統和先進的WLR量測提供產能的優點。藉由本次研討會，您將學習與瞭解：如何評估WLR並行測試速度與產能對傳統可靠性結構的影響； 如何評估使用於並行測試系統中的傳統測試結構；影響WLR測試的量測誤差源；一般架構、量測和最佳化技術。
目標聽眾: 本次研討會適合於半導體可靠性測試的新手、需要加快WLR測試的測試工程師們，以及QRA實驗室經理。

內容介紹：本次研討會上，我們將識別、討論並提出一些高壓晶圓級參數測試挑戰的解決方案。關鍵部份包括: • 高電壓探針卡的要求 • 開關熱切換和電纜充電的風險 • 高電壓測試過程中低電壓儀器的保護 • 高電壓參數測試規劃藍圖
目標觀眾: 本次網路研討會是針對半導體業界測試部門的工程師和經理，有興趣學習更多有關高電壓參數測試和特性分析的實務議題。

內容介紹：印刷和有機電子產品是一種新穎非傳統的技術，有可能改變電子產品的世界。這項技術提供了製造低成本電子產品解決方案機會，是不相容於今日的標準無機電子產品。為實現這一潛力，對組裝好的元件和印刷油墨進行精確量測，是充分了解材料和器件的電性特性和運作特性時必不可或缺的。知道如何減少各種量測誤差的來源將是成功的關鍵。本次研討會針對印刷和有機電子產品和材料提出說明其電氣特性分析的方法和最佳量測實務。同時也討論需要這些量測原理的應用範例。 本次研討會學員將學習和瞭解： • 印刷電子油墨的電導率量測和有機電子元件的IV特性分析所需的量測技術 • 影響量測的測量誤差源 • 應用於印刷和有機電子量測應用的量測解決方案 目標觀眾: 本次研討會適合從事於材料科學、化學、奈米科學、有機/半導體元件發展等領域，且希望能更瞭解基本電氣量測的學生、研究人員、工程師和科學家。

內容介紹：維持測試系統高成本效益和效率是每一位測試工程師的工作目標。當系統需要面對多個待測元件（DUT）或測試點時，路由訊號成為必要的程序。對訊號在 DUT與電源或量測之間路徑切換的瞭解對系統完整性是重要的。要設計符合系統需求的開關，是需要對待測件、待測物數量、訊號大小、量測速度的要求，以及執行訊號路由的設備有所瞭解。本次研討會介紹的開關的基本知識，從開關類型（繼電器，電晶體等）到開關系統（多工器，矩陣等）。 本次研討會參與者將瞭解: • 開關類型（繼電器，電晶體等） • 開關系統類型（多工器，矩陣等） • 路由訊號類型（DC，AC，RF等） • 在一個系統使用多種信號路由和交換類型 • 如何提高系統的速度和準確性
參加對象： 本次研討會適合於想要更瞭解測試系統的開關技術，而工作於生產環境中的測試工程師和系統設計師。

內容介紹：本期線上研討會概述應用於今日大功率高亮度發光二極體測試所需要的電氣測試設備。將討論大型LED和LED模組如何正推動著更大電流容量和更佳輸出波形靈活性的測試設備需要，以及實現這些功能的適當的佈線要求。同時也包含發光二極管的晶閘管效應，包括它的定義、如何偵測它，和現代化測試設備如何使它偵測容易。 研討會參與者將習得和瞭解： • 大型LED和LED模組如何推動更大功率和脈衝寬度調變（PWM）的測試設備需要 • 高功率LED測試需要適當的測試接線 • 發光二極管的晶閘管（thyristor）效應和如何偵測它 目標觀眾： 本期線上研討會適合於參與開發和生產高亮度發光二極體的研究人員、測試工程師和測試工程經理等。

內容介紹：已量產的ARM Cortex-R4處理器可廣泛應用於硬碟驅動控制器、工控產品、無線基頻處理器、消費性產品以及車用系統電控元件。通過本次線上研討會，您將獲得更多關於下世代ARM Cortex-R5及Cortex-R7即時處理器的創新解決方案。這些新開發的處理器將顯著地提升嵌入式系統層級，協助市場開發更快速、安全及穩定的嵌入式應用產品。我們將檢視包含多核心及連結技術等創新解決方案，該解決方案能以極快的速度，將資料存取至外接周邊裝置，並且大幅提升了安全性，有效滿足現今嚴苛的工業標準。所有的創新方案均針對精準目標應用所需的高層級設定而設計，包含指令及資料快取控制器、緊密耦合記憶體（Tightly Coupled Memory，TCM）介面、記憶體保護、錯誤校正或位元檢查、除錯和追蹤程式碼以及浮點處理器（Floating-Point Unit，FPU）選項。歡迎參加本次研討會以瞭解更多訊息：-ARM最新高效能即時回應嵌入式系統解決方案 -洞悉最新行動標準 -回顧即時應用方案 -獲得ARM產品規劃更新資訊

內容介紹：隨著LED逐漸被廣泛應用到各個領域，特別是高亮度的LED應用的高速發展和普遍使用，例如汽車、照明、路燈等等。LED的電性測試具有多樣性，提出了更高的測試要求並更具挑戰性。要很好的解決這些測試問題、給LED提供準確可靠的測試結果，必須要瞭解問題產生的根源，才能更清楚的知道如何克服測試誤差。有鑑於此，Keithley期望藉由此次的研討會，讓大家可以更清楚的瞭解以下的議題以及對應的解決方案： 1. LED自發熱效應以及如何避免自發熱效應 2. 如何將正向電壓與結溫聯繫起來 3. 雜訊在正向電壓測量中的影響 4. 直流和交流LED測試之間的差別

內容介紹：現今廣受歡迎的家庭娛樂和行動裝置中所採用的處理器數量已日益增加。由於這些處理器需要共享相同的管線，因此常會對SoC設計人員和系統架構師帶來不小的效率瓶頸挑戰。設計人員通常會透過增加接腳、連接埠、或甚至更多的DRAM來提升效能，並達到設計目標，但是這些做法均會造成非預期的成本增加。設計人員的挑戰在於應如何取得額外的原始頻寬，以提升晶片上效率和簡化DRAM管理工作，但仍能同時以預算內成本準時推出產品。
在此線上研討會中，Sonics將會討論一種創新、具成本效益的方法，能讓SoC設計人員和系統架構師減輕高頻寬應用（如PMP、智慧型手機、HDTV、機上盒、DVR和數位相機等裝置的行動視訊串流）中的記憶體效率壅塞問題。此外，設計人員還能學習如何顯著提升記憶體頻寬使用率達30%，而不會有記憶體成本增加、系統效能降低或需要重新設計系統的問題。