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[已經舉行的研討會]  霍爾效應量測基礎
 
[研討會簡介]  本次研討會將介紹霍爾效應量測主題，因為它們涉及半導體材料和元件特性分析。霍爾效應量測系統通常用於測定半導體參數，如載流子遷移和載流子濃度、霍爾係數、導電率和導電類型。
本次研討會參與者將學習:  • 什麼是霍爾效應量測？  • 誰需要霍爾效應量測？  • 什麼工業趨勢正在推動霍爾效應量測的需求？  • 選擇霍爾效應量測設備的關鍵考量是甚麼？  • 什麼技術能確保量測的品質？
目標客戶: 本次研討會推薦給進行如奈米材料等新材料電氣性能研究的科學家和物理學家、從事結合化合物半導體材料進行太陽能/光伏應用薄膜研發，或是研究以碳為基礎的元件特性的工程師、材料科學家和物理學家，以及所有特性分析實驗室的管理人員和任何半導體材料和測試的新手。
 
 
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