研討會廣播： ·幸運抽獎公告 ·本月強力推薦  ·熱門研討會點播 ·隆重推薦其他語言版本研討會 
   
會員登錄
首頁 / 會員登錄
 
[已經舉行的研討會]  相變記憶體 (Phase Change Memory) - 基礎及測量技術
 
[研討會簡介]  相變記憶體(Phase Change Memory)，一個非揮發性電腦記憶體也被稱為PRAM、PCM 和 PCRAM，是一個新穎且未來前景看好的技術。 PRAM 使用具有獨特行為的硫化玻璃，當您給予特定應用的熱能，可以使它在結晶和無定形兩個狀態之間切換。最近的技術還可以再增加兩個不同的狀態，有效地讓它的儲存容量加倍。
這個研討會將提供物理原理和PRAM記憶體元件操作的基本資料。內容包括元件一般特性和測量技術的近況與比較，其中的R - Load方法和技術就是採用吉時利ultra-fast IV量測機台。
目標聽眾：這次研討會主要建議測試工程師和測試工程經理，其目前將新進入PRAM記憶體的測量，但對於有相關經驗的人員也會有相當的幫助。
 
 
還未註冊？請註冊成為線上研討會用戶
現在免費註冊，您即可：
  • 免費參加業界知名廠商主辦的精彩線上研討會
  • 免費下載專家演講文檔
  • 免費查閱研討會精選問答
  • 免費收閱研討會訊息速遞


已經註冊? 請登錄確認參加研討會

如果您曾經註冊參加過線上研討會，請使用當時註冊的電子郵箱登錄，登錄初始密碼為：888888請在登錄成功以後儘快修改您的個人信息；如果您是首次登錄線上研討會，請點擊註冊。
 
電子郵箱:
 
密        碼: 
       忘記密碼？