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[研討會簡介] 本研討會將說明低電流（從nA到fA）電性測試的基本知識，包括如何選擇正確的電流量測儀器，有效降低測試設置電流雜訊的方法，以及如何找出不易察覺的雜訊來源。這些最佳測試方法對於半導體材料/元件特性，奈米科學測量，光電元件特性以及許多的應用都很重要。需要如此靈敏測量的應用範例將會討論，同時也有目前創新的測試設備方案。
與會目的：
透過參加本研討會，您將學會並了解：
1. 測量非常低電流所需的測試技巧
2. 會影響如此低電流測試的測量誤差來源
3. 在低電流測量應用中可使用的測量方案
目標聽眾：
本研討會建議給想更了解低電流的學生，研究者，工程師，以及材料科學，化學，奈米科學，和半導體元件開發這些領域的科學家來參加。
與會目的：
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1. 測量非常低電流所需的測試技巧
2. 會影響如此低電流測試的測量誤差來源
3. 在低電流測量應用中可使用的測量方案
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