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[已經舉行的研討會]  霍爾效應測量基礎
 
[研討會簡介]  本次研討會將以霍爾效應的測量為主題，介紹它們與半導體材料和元件特徵分析的關係。霍爾效應測量系統通常用於測量半導體參數，例如載子遷移率和載子濃度、霍爾係數和導電率以及導電型。
參加本次研討會可以瞭解到：
• 什麼是霍爾效應測量？
• 哪些人員會用到霍爾效應測量？
• 推動霍爾效應測量需求的行業趨勢是什麼？
• 在選擇霍爾效應測量所需的設備時應注意哪些關鍵問題？
 
 
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