研討會介紹
該網路研討會探討在元件和製程技術領域中日益重要的超快速電流電壓（I-V ）特性分析。常見的應用包括非揮發性記憶體元件技術（NVM），如快閃和相變化記憶體，絕緣層上覆矽(SOI)元件和複合半導體的等溫特性分析，以及新材料的瞬態特性分析，例如高介電材料。
超快速I-V元件特性分析基本原理將重點說明其量測硬體和設定，包括電纜到探針台的連接。同時也討論標準的測試設定和常見的誤差來源。最後，將提供一些元件量測的應用實例。

目標對象：
研究材料、製程和元件特性分析的學生，研究人員和工程師
想瞭解這個實用的量測技術的實驗室管理者
從事元件和材料可靠度研究的工程師 (如晶圓可靠度、靜電放電、閉鎖效應等)


關於美商吉時利儀器
美商吉時利儀器公司（紐約證交所代號：KEI）專精於設計解決方案，滿足各種新興的測試與測量需求，為全球客戶提供更多對於量測結果的信心。吉時利公司以研究領域的電子測量解決方案為基礎，多年來，在各個日新月異的高科技領域中，與頂尖公司建立夥伴關係，逐漸成為全球製造測試科技的先驅，這些領域包括全球通訊、半導體與元件生產等。如欲獲知更多關於本公司的資訊：www.keithley.com.tw。