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演講語言:英語
演講專家: Jonathan Tucker
Jonathan Tucker是美國俄亥俄州吉時利儀器公司的奈米科技工程,研究及教育的主導行銷工程人員,以及靈敏測量產品線經理。他於1987年加入吉時利儀器並且擔任過很多職務,包括測試工程師,應用工程師,應用經理,和產品市場行銷。他目前專注於商業策略及電性特性產品發展及內米科技應用測量工具等。他擁有克里夫蘭州立大學電機工程學士及肯特州立大學MBA學位。
 
 
研討會介紹
 
本研討會將說明低電流(從nA到fA)電性測試的基本知識,包括如何選擇正確的電流量測儀器,有效降低測試設置電流雜訊的方法,以及如何找出不易察覺的雜訊來源。這些最佳測試方法對於半導體材料/元件特性,奈米科學測量,光電元件特性以及許多的應用都很重要。需要如此靈敏測量的應用範例將會討論,同時也有目前創新的測試設備方案。

與會目的:
透過參加本研討會,您將學會並了解:
1. 測量非常低電流所需的測試技巧
2. 會影響如此低電流測試的測量誤差來源
3. 在低電流測量應用中可使用的測量方案

目標聽眾:
本研討會建議給想更了解低電流的學生,研究者,工程師,以及材料科學,化學,奈米科學,和半導體元件開發這些領域的科學家來參加。
 
關於美商吉時利儀器
美商吉時利儀器公司(紐約證交所代號:KEI)專精於設計解決方案,滿足各種新興的測試與測量需求,為全球客戶提供更多對於量測結果的信心。吉時利公司以研究領域的電子測量解決方案為基礎,多年來,在各個日新月異的高科技領域中,與頂尖公司建立夥伴關係,逐漸成為全球製造測試科技的先驅,這些領域包括全球通訊、半導體與元件生產等。如欲獲知更多關於本公司的資訊:www.keithley.com.tw