約50分鐘
英語

研討會介紹 本次研討會將以霍爾效應的測量為主題，介紹它們與半導體材料和元件特徵分析的關係。霍爾效應測量系統通常用於測量半導體參數，例如載子遷移率和載子濃度、霍爾係數和導電率以及導電型。

參加本次研討會可以瞭解到：
• 什麼是霍爾效應測量？
• 哪些人員會用到霍爾效應測量？
• 推動霍爾效應測量需求的行業趨勢是什麼？
• 在選擇霍爾效應測量所需的設備時應注意哪些關鍵問題？

關於美商吉時利儀器
美商吉時利儀器公司（紐約證交所代號：KEI）專精於設計解決方案，滿足各種新興的測試與測量需求，為全球客戶提供更多對於量測結果的信心。吉時利公司以研究領域的電子測量解決方案為基礎，多年來，在各個日新月異的高科技領域中，與頂尖公司建立夥伴關係，逐漸成為全球製造測試科技的先驅，這些領域包括全球通訊、半導體與元件生產等。如欲獲知更多關於本公司的資訊：www.keithley.com.tw。