大部份光伏元件研究的主要目標著重在轉換效率的提昇和降低製造成本。為了驗證該轉換效率的改善，光伏元件必須進行電氣特性分析。本次研討會將討論應用於太陽能電池特性分析的各種量測技術。 本次研討會參與者將瞭解： • 如何進行短路電流（Isc）、開路電壓（Voc）、最大功率輸出（Pmax）和轉換效率的量測 • 如何選擇合適的儀器設備 • 元件連接的最佳做法   參加對象： 本次研討會適合於對光伏元件有基本認識的學生、工程師和工程經理參加。

隨著LED逐漸被廣泛應用到各個領域，特別是高亮度的LED應用的高速發展和普遍使用，例如汽車、照明、路燈等等。LED的電性測試具有多樣性，提出了更高的測試要求並更具挑戰性。要很好的解決這些測試問題、給LED提供準確可靠的測試結果，必須要瞭解問題產生的根源，才能更清楚的知道如何克服測試誤差。有鑑於此，Keithley期望藉由此次的研討會，讓大家可以更清楚的瞭解以下的議題以及對應的解決方案： 1. LED自發熱效應以及如何避免自發熱效應 2. 如何將正向電壓與結溫聯繫起來 3. 雜訊在正向電壓測量中的影響 4. 直流和交流LED測試之間的差別

現今廣受歡迎的家庭娛樂和行動裝置中所採用的處理器數量已日益增加。由於這些處理器需要共享相同的管線，因此常會對SoC設計人員和系統架構師帶來不小的效率瓶頸挑戰。設計人員通常會透過增加接腳、連接埠、或甚至更多的DRAM來提升效能，並達到設計目標，但是這些做法均會造成非預期的成本增加。設計人員的挑戰在於應如何取得額外的原始頻寬，以提升晶片上效率和簡化DRAM管理工作，但仍能同時以預算內成本準時推出產品。
在此線上研討會中，Sonics將會討論一種創新、具成本效益的方法，能讓SoC設計人員和系統架構師減輕高頻寬應用（如PMP、智慧型手機、HDTV、機上盒、DVR和數位相機等裝置的行動視訊串流）中的記憶體效率壅塞問題。此外，設計人員還能學習如何顯著提升記憶體頻寬使用率達30%，而不會有記憶體成本增加、系統效能降低或需要重新設計系統的問題。

本次研討會將介紹霍爾效應量測主題，因為它們涉及半導體材料和元件特性分析。霍爾效應量測系統通常用於測定半導體參數，如載流子遷移和載流子濃度、霍爾係數、導電率和導電類型。
本次研討會參與者將學習:  • 什麼是霍爾效應量測？  • 誰需要霍爾效應量測？  • 什麼工業趨勢正在推動霍爾效應量測的需求？  • 選擇霍爾效應量測設備的關鍵考量是甚麼？  • 什麼技術能確保量測的品質？
目標客戶: 本次研討會推薦給進行如奈米材料等新材料電氣性能研究的科學家和物理學家、從事結合化合物半導體材料進行太陽能/光伏應用薄膜研發，或是研究以碳為基礎的元件特性的工程師、材料科學家和物理學家，以及所有特性分析實驗室的管理人員和任何半導體材料和測試的新手。

本期研討會是協助可靠度工程師認識及使用超快速I-V方法來實現最新型的偏壓溫度不穩定性量測(BTI)。第一部份是檢視目前應用於超薄膜電晶體的正負偏壓溫度不穩定性(PBTI及NBTI)的原理。第二部份是專注於其量測的挑戰和詳細說明擷取衰退與恢復特性的最佳超快速I-V量測方法。本期研討會參與者將學習： • 建構NBTI及PBTI的現行原理  • BTI衰退與恢復特性分析相關挑戰  • 應用於模型建構和程序控制的最新型量測技術  • 超快速I-V量測的熱雜訊及其它限制  • 量測系統性能分析的技巧
目標客戶：本期研討會對象是從事半導體可靠度特性分析量測的工作人員。研討內容尤其對負責開發測試系統和方法來解決超薄膜電晶體可靠度需要的學生、技術人員、工程師以及實驗室經理有所幫助。

電阻率是最基本的材料特性及常見的電性量測指標。特定電阻率量測方法是依據傳導、絕緣與半導體材料類型而定。本期線上研討會詳述可實現最佳結果的各種電阻率量測方法及技術。
參與者可學習塊材電阻率量測的基本原理。量測方法會因傳導、絕緣與半導體材料而異。量測方法包括金屬的四線電阻量測，絕緣體的體積和表面電阻率量測，以及半導體材料的直排四點探針和范德堡量測方法。除討論這些量測方法外，本期研討會也詳述適用於這些方法的量測技術，並討論電磁干擾和其遮蔽方法，洩漏電流和其抑止方法，以及熱電動勢和其誤差補償等量測誤差源及其免除技術。要實現最佳量測結果，除了使用適當的方法和技術外，還必須採用適合的儀器進行所需的量測。
目標客戶群：
本期網絡研討會適合於材料研究人員、研發實驗室、物理科學家、大學研究室以及需要如太陽能電池、塑料、紙張、輪胎及半導體等電阻率測試的廠商。