儘管快閃記憶體已經是成熟的技術，但是如多層單元（MLC）等不斷發展，旨在實現更高的密度。同時，也出現新的量測技術和功能，以用於開發的單顆電晶體特性分析到快閃記憶體生產的整合及自動化方案。
本期網絡研討會中會先回顧快閃記憶體技術測試基礎，包含討論穿隧效應(Fowler-Nordheim)和熱電子注入(Hot Electron Injection)寫入和抹除。接著討論用於單顆快閃電晶體和快閃陣列測試的不同面向，包括標準電晶體特性分析、耐久性和干擾測試。同時也討論MLC測試的脈衝精確度的要求。這些應用的驗證將使用吉時利最新超快速I-V測試方案，其提供最佳脈衝波形和振幅的控制，完全適合於MLC快閃記憶體測試，並使用吉時利ACS軟體來管理一系列的測試實驗。
目標聽眾:
本期網絡研討會適合想了解快閃記憶體測試設定和尋求測試方案的朋友參加。

該網路研討會探討在元件和製程技術領域中日益重要的超快速電流電壓（I-V ）特性分析。常見的應用包括非揮發性記憶體元件技術（NVM），如快閃和相變化記憶體，絕緣層上覆矽(SOI)元件和複合半導體的等溫特性分析，以及新材料的瞬態特性分析，例如高介電材料。
超快速I-V元件特性分析基本原理將重點說明其量測硬體和設定，包括電纜到探針台的連接。同時也討論標準的測試設定和常見的誤差來源。最後，將提供一些元件量測的應用實例。
目標對象：
研究材料、製程和元件特性分析的學生，研究人員和工程師
想瞭解這個實用的量測技術的實驗室管理者
從事元件和材料可靠度研究的工程師 (如晶圓可靠度、靜電放電、閉鎖效應等)

越來越多尺寸小巧的磚電源模組被採用到半橋式的電路配置當中。要達到優化系統性能以及提高其可靠性的目的，這種設計必須克服限流和次級線圈同步整流這兩個棘手的問題。這次研討會將集中討論上面所提及的設計挑戰，並詳細講解可以解決有關問題的晶片系統解決方案以及它的特點，例如通過電流鏡實現的高頻寬環路介面。

由於攝影技術日趨成熟，資料儲存方式也越趨多樣化，加上這方面的投資成本不斷下跌，因此視訊監控系統的使用便日漸普及。此外，高畫質顯示器的售價也不斷下跌，進一步帶動視訊監控系統市場的蓬勃發展。高畫質電視的日漸普及也有促進的作用，令高畫質視訊監控系統的市場需求不斷上升。清晰亮麗的視訊片段可以透露許多具體的資訊內容，遠比簡單的“影像”有用，這是無庸置疑的。只要影像夠清晰，當事人的樣貌及車牌號碼都清晰可辨，沒有爭辯餘地，也無需胡亂猜度。但傳送高畫質影像涉及大量資料的傳輸，令實體層介面備受較大壓力。目前普遍使用的類比視訊監控系統都利用低成本的同軸電纜互相連繫一起。若受環境所限而必須沿用現有的電纜，高畫質視訊監控系統的實體層介面會備受更大的壓力。我們將會在今次的線上研討會上探討有關的問題，並會為各位介紹一些相關的解決方案。

相變記憶體(Phase Change Memory)，一個非揮發性電腦記憶體也被稱為PRAM、PCM 和 PCRAM，是一個新穎且未來前景看好的技術。 PRAM 使用具有獨特行為的硫化玻璃，當您給予特定應用的熱能，可以使它在結晶和無定形兩個狀態之間切換。最近的技術還可以再增加兩個不同的狀態，有效地讓它的儲存容量加倍。
這個研討會將提供物理原理和PRAM記憶體元件操作的基本資料。內容包括元件一般特性和測量技術的近況與比較，其中的R - Load方法和技術就是採用吉時利ultra-fast IV量測機台。
目標聽眾：這次研討會主要建議測試工程師和測試工程經理，其目前將新進入PRAM記憶體的測量，但對於有相關經驗的人員也會有相當的幫助。

跨國企業內部的電子設計團隊面臨著諸多艱巨的挑戰，包括知識產權管理、供應鏈整合以及多個據點的協同合作。
使用Expedition Enterprise，公司可以充分利用內部的多學科設計團隊資源，建立和存取使用全球性知識產權，從而有效地解決這些挑戰。
你能從中學到什麼　
  •  以庫、約束和設計區塊的形式來管理和利用知識產權
  •  在公司內部整合PCB設計過程的技術
  •  在設計團隊內部以及跨多學科團隊的合作方法，包括電子/機械、FPGA/PCB、射頻/類比/數位和設計/製造等

目前地球暖化問題受到廣泛的關注，加上能源價格波動不定，許多國家都已開始考慮禁止銷售低效率的白熾燈。隨著高亮度LED技術的不斷發展，LED的效率不斷提高，而價格也持續下跌，LED正逐步取代傳統的白熾燈。LED的優點包含燈光穩定，外型小巧，適用於惡劣的作業環境，壽命長，而且最重要的一點是不含水銀。
半導體照明系統要被大量採用，首先要有一個可以提高LED光通量輸出的高效驅動器。另一關鍵因素是新的LED燈是否符合原有燈具的大小標準，例如Globes、PAR30/38和T5/T8等標準，以及能否完全兼容包括掛牆式調光器開關在內的原有配套裝置。
TRIAC相位控制調光器是目前最普遍採用的調光器，但它的設計基本上只適用於白熾燈及鹵素燈。因為LED並非純粹的阻性負載，如果利用原有的TRIAC相位控制調光器為LED進行調光，效果並不理想。　
今次的線上研討會將討論傳統TRIAC調光器的工作原理以及利用TRIAC調光器來調控LED亮度所要面對的困難與問題。我們也將為你介紹能夠解決這些問題的設計方法及竅門。

這個研討會是設計為介紹電容電壓測試這個主題，主要為其與半導體元件及材料特性的關聯。電容電壓測試普遍被使用來決定半導體參數，如摻雜濃度分布、介面能階密度、起始電壓、氧化物電荷、和載子生命期。
與會者將瞭解：
1. 什麼是電容電壓測試？
2. 哪些種類的元件可以使用電容電壓測試來測量？
3. 誰能使用電容電壓測試？
4. 電容電壓測試的挑戰
目標聽眾：
新接觸半導體材料及元件測試的工程師，想要更新測試方法知識的製程及元件工程師，特性實驗室經理。

新一代的行動電話及可攜式電子設備不斷添加智慧的功能，智慧型手機的市場佔有率也因此不斷上升。智慧型手機必須採用愈來愈多感應器，例如環境光感應器、G感應器、距離感應器、震動感應器等。為了協調不同感應器的感測功能，美國國家半導體特別提供一款智慧型的感應器介面電路，其優點是可以根據感應器的輸出，即時調控LED的亮度，讓燈光效果為用戶添加多媒體使用體驗，增加手機產品的賣點。美國國家半導體將會在今次研討會上討論燈光管理單元的市場發展趨勢。

本研討會將說明低電流（從nA到fA）電性測試的基本知識，包括如何選擇正確的電流量測儀器，有效降低測試設置電流雜訊的方法，以及如何找出不易察覺的雜訊來源。這些最佳測試方法對於半導體材料/元件特性，奈米科學測量，光電元件特性以及許多的應用都很重要。需要如此靈敏測量的應用範例將會討論，同時也有目前創新的測試設備方案。
與會目的：
透過參加本研討會，您將學會並了解：
1. 測量非常低電流所需的測試技巧
2. 會影響如此低電流測試的測量誤差來源
3. 在低電流測量應用中可使用的測量方案
目標聽眾：
本研討會建議給想更了解低電流的學生，研究者，工程師，以及材料科學，化學，奈米科學，和半導體元件開發這些領域的科學家來參加。

此次的線上研討會將展示PADS 9.0是如何幫助您快速和精準地設計高速電路。透過在易於使用的整合流程中整合了業界最流行的EDA工具，將可改善高速設計效率。
在這場研討會中，我們所介紹的工具能為您帶來的幫助有：
  •  定義高速設計約束條件
  •  擷取原理圖工具內部佈局的高速規則
  •  交互使用自動佈線工具，根據工程規則來安置高速網的線路
  •  驗證劃定線路的高速網能否符合指定要求
您將瞭解到：
  •  PADS工具如何能在佈局前和佈局後幫助您分析高速設計
  •  PADS工具如何能簡化高速網的佈線過程，以滿足設計約束條件

瞭解如何利用DxDesigner/PADS流程來最佳化您的設計環境。DxDesigner提供了一種整合方法，可以在整個設計過程中擷取、驗證和傳達設計理念。
瞭解如何藉由擷取原理圖、將IC整合到PCB上，以及擷取/傳達電氣和實體規則至PADS Layout，可以為您帶來更高的設計效率和品質。
您將學習到
  •  如何在現有最強大的環境中，快速、方便地擷取您的設計
  •  如何透過DxDataBook充分利用目前的企業資料庫，幫助您選擇最佳的元件和加快設計過程
  •  如何在設計原理圖階段就把屬性、設計規則和其他資訊輸入到設計內，然後完美無縫地傳遞到PCB佈局和分析工具之中
  •  DxDesigner是如何讓您能輕鬆地建立小型PCB設計，還能簡化管理和擷取較大的複雜設計