簡介：本次研討會上，我們將識別、討論並提出一些高壓晶圓級參數測試挑戰的解決方案。關鍵部份包括: • 高電壓探針卡的要求 • 開關熱切換和電纜充電的風險 • 高電壓測試過程中低電壓儀器的保護 • 高電壓參數測試規劃藍圖
目標觀眾: 本次網路研討會是針對半導體業界測試部門的工程師和經理，有興趣學習更多有關高電壓參數測試和特性分析的實務議題。

簡介：印刷和有機電子產品是一種新穎非傳統的技術，有可能改變電子產品的世界。這項技術提供了製造低成本電子產品解決方案機會，是不相容於今日的標準無機電子產品。為實現這一潛力，對組裝好的元件和印刷油墨進行精確量測，是充分了解材料和器件的電性特性和運作特性時必不可或缺的。知道如何減少各種量測誤差的來源將是成功的關鍵。本次研討會針對印刷和有機電子產品和材料提出說明其電氣特性分析的方法和最佳量測實務。同時也討論需要這些量測原理的應用範例。 本次研討會學員將學習和瞭解： • 印刷電子油墨的電導率量測和有機電子元件的IV特性分析所需的量測技術 • 影響量測的測量誤差源 • 應用於印刷和有機電子量測應用的量測解決方案 目標觀眾: 本次研討會適合從事於材料科學、化學、奈米科學、有機/半導體元件發展等領域，且希望能更瞭解基本電氣量測的學生、研究人員、工程師和科學家。

簡介：維持測試系統高成本效益和效率是每一位測試工程師的工作目標。當系統需要面對多個待測元件（DUT）或測試點時，路由訊號成為必要的程序。對訊號在 DUT與電源或量測之間路徑切換的瞭解對系統完整性是重要的。要設計符合系統需求的開關，是需要對待測件、待測物數量、訊號大小、量測速度的要求，以及執行訊號路由的設備有所瞭解。本次研討會介紹的開關的基本知識，從開關類型（繼電器，電晶體等）到開關系統（多工器，矩陣等）。 本次研討會參與者將瞭解: • 開關類型（繼電器，電晶體等） • 開關系統類型（多工器，矩陣等） • 路由訊號類型（DC，AC，RF等） • 在一個系統使用多種信號路由和交換類型 • 如何提高系統的速度和準確性
參加對象： 本次研討會適合於想要更瞭解測試系統的開關技術，而工作於生產環境中的測試工程師和系統設計師。

簡介：大部份光伏元件研究的主要目標著重在轉換效率的提昇和降低製造成本。為了驗證該轉換效率的改善，光伏元件必須進行電氣特性分析。本次研討會將討論應用於太陽能電池特性分析的各種量測技術。 本次研討會參與者將瞭解： • 如何進行短路電流（Isc）、開路電壓（Voc）、最大功率輸出（Pmax）和轉換效率的量測 • 如何選擇合適的儀器設備 • 元件連接的最佳做法   參加對象： 本次研討會適合於對光伏元件有基本認識的學生、工程師和工程經理參加。

簡介：本期線上研討會概述應用於今日大功率高亮度發光二極體測試所需要的電氣測試設備。將討論大型LED和LED模組如何正推動著更大電流容量和更佳輸出波形靈活性的測試設備需要，以及實現這些功能的適當的佈線要求。同時也包含發光二極管的晶閘管效應，包括它的定義、如何偵測它，和現代化測試設備如何使它偵測容易。 研討會參與者將習得和瞭解： • 大型LED和LED模組如何推動更大功率和脈衝寬度調變（PWM）的測試設備需要 • 高功率LED測試需要適當的測試接線 • 發光二極管的晶閘管（thyristor）效應和如何偵測它 目標觀眾： 本期線上研討會適合於參與開發和生產高亮度發光二極體的研究人員、測試工程師和測試工程經理等。

簡介：已量產的ARM Cortex-R4處理器可廣泛應用於硬碟驅動控制器、工控產品、無線基頻處理器、消費性產品以及車用系統電控元件。通過本次線上研討會，您將獲得更多關於下世代ARM Cortex-R5及Cortex-R7即時處理器的創新解決方案。這些新開發的處理器將顯著地提升嵌入式系統層級，協助市場開發更快速、安全及穩定的嵌入式應用產品。我們將檢視包含多核心及連結技術等創新解決方案，該解決方案能以極快的速度，將資料存取至外接周邊裝置，並且大幅提升了安全性，有效滿足現今嚴苛的工業標準。所有的創新方案均針對精準目標應用所需的高層級設定而設計，包含指令及資料快取控制器、緊密耦合記憶體（Tightly Coupled Memory，TCM）介面、記憶體保護、錯誤校正或位元檢查、除錯和追蹤程式碼以及浮點處理器（Floating-Point Unit，FPU）選項。歡迎參加本次研討會以瞭解更多訊息：-ARM最新高效能即時回應嵌入式系統解決方案 -洞悉最新行動標準 -回顧即時應用方案 -獲得ARM產品規劃更新資訊